超聲顯微鏡檢測或無損檢測高速數(shù)據(jù)采集卡Al8xgte-x系列

新一代高速數(shù)據(jù)采集卡Al8xgte-x系列，超聲顯微鏡或無損檢測神器！

 如果你需要進行精確、可靠的無損檢測，那么Al8xgte-x系列的高速數(shù)據(jù)采集卡一定是你的首選。這一系列的采集卡擁有著良好的兼容性和穩(wěn)定性，適用于各類超聲檢測領(lǐng)域，包括金屬材料、鋼制管道以及航空航天等。

Al8xgte-x系列數(shù)據(jù)采集卡采用了先進的數(shù)字信號處理技術(shù)，在高速數(shù)據(jù)采集方面具備重大優(yōu)勢。與此同時，它還擁有高速采集存儲、回放等多項功能，以滿足各類客戶在超聲檢測方面的需求。

Al8xgte-x系列采集卡是一種非常方便易用的設(shè)備，它能簡化檢測過程，并有效提升工作效率。使用該設(shè)備，只需要將數(shù)據(jù)采集卡連接至計算機的PCIe括展槽內(nèi)，開啟軟件即可開始操作。另外，根據(jù)不同客戶的需求，我們也提供了多種多樣的接口，以便靈活應對各類檢測需求。

這些板卡系列有傳統(tǒng)的PCI接口的板卡，而高速采集率的（1G, 1.5G, 3GS/s）的采集卡則采用PCI Express接口，以提升數(shù)據(jù)傳輸速率。

所有的OKOS板卡方案允許多觸發(fā)采集和板上峰值檢測功能。甚至也可以通過固件升級進行定制處理功能。

  這些系列的板卡最大的特點是針對超聲顯微鏡應用做的優(yōu)化: 在一個測試樣本內(nèi)多域B-SCAN的創(chuàng)新。這個新的功能允許用戶當跟蹤到一個閾值跨越時去測試獨立的波形區(qū)域。

  例如：設(shè)置時段從10到12us, 40到40us， 120到124us，和160到165us，這這個測試樣本內(nèi)，只從這些區(qū)域收集數(shù)據(jù)。這項功能在需要非連續(xù)B-SCAN區(qū)域內(nèi)的應用非常有價值。

總之，Al8xgte-x系列高速數(shù)據(jù)采集卡是一款值得信賴的無損檢測神器。只要您選擇了這款設(shè)備，您就能夠體驗到一種高效、可靠的檢測過程，讓您的工作更加省心省力。