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              在線客服

              GT8080集成電路在線測試儀

              ICTF: 40×2th,V/I曲線: 80th,雙列直插夾具(7件)    表面貼雙列直插夾具(7件)   單排式40腳夾具(3件)
              生產(chǎn)廠商: 迪陽公司 產(chǎn)品型號: GT8080
              產(chǎn)品簡介: ICTF: 40×2th,V/I曲線: 80th,雙列直插夾具(7件) 表面貼雙列直插夾具(7件) 單排式40腳夾具(3件)
               
              GT4040XP/4880XP/8080XP 電路板故障檢測儀
              [GT]系列檢測儀幫助您解除電路板維修中的煩惱。配合電腦使用,全部智能化。它利用電腦來彌補人工維修能力的不足,能夠在維修人員缺乏圖紙資料或不清楚電路板工作原理的情況下,對各種類型的電路板進(jìn)行ASA分析或GT測試,在線檢測元器件好壞,迅速檢測到電路板上故障元器件。簡捷經(jīng)濟(jì)地修好各種類型電路板。
              產(chǎn)品特點:

              ◆先進(jìn)的測試技術(shù),強大的驅(qū)動能力,任何故障原因的電路板皆可修好
              ◆友好簡單的中文操作界面,不經(jīng)專業(yè)訓(xùn)練,任何人均可成為維修專家
              ◆無需電路原理圖,不必知道器件型號,對任何電路板皆可快速維修
              ◆40/40×2路數(shù)字電路測試功能,備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫
              ◆40/40×2(ASA)V/I,曲線分析測試功能
              ◆電路板測試存儲功能,被測板可與之比較
              ◆與進(jìn)口同類儀器比較,性價比更優(yōu),操作更方便
              ◆通用于各類雙列直插式封裝芯片,可為大中規(guī)模集成電路提供分析測試
              ◆本功能亦可通過學(xué)習(xí)記錄,比較分析來測試

              工作原理: 全功能ASA+GT測試器 
                    ASA(Analong signature Analysis)對元件每個管腳提供一個安全、低功率的掃描驅(qū)動電壓信號,以便產(chǎn)生一個阻抗性圖并在CRT上顯示、且可存儲,以備比對。所有測試都是在靜態(tài)下(不加電)執(zhí)行,所以不會傷害元件。它不僅能快速掃描并存儲各類IC每個管腳V/I曲線圖形,并且對各類分立元件如:電阻、電容等同樣有效。
                   GT(In circuit Testing)它能把待測元件與PC資料庫內(nèi)相對應(yīng)的元件資料作邏輯功能測試比較,測試時可在CRT上顯示元件管腳連接狀態(tài),元件輸入管腳的輸入波形,同時顯示相應(yīng)輸出管腳的實測波形及標(biāo)準(zhǔn)波形,以便判定IC邏輯功能好壞。此功能可快速測試IC好壞,也可測試分析,還可識別不明型號的IC。
               
              [GT]系列檢測儀檢測更加可靠準(zhǔn)確
              ■ 功能測試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開路門的測試 ■ 功能測試外供電源穩(wěn)定可靠——各種大、中、小型被測電路板皆可測試 ■ 功能測試具有三態(tài)識別能力——可測三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障 ■ V/I測試正負(fù)掃描電壓——同時檢查正/反向V/I曲線 ■ V/I測試六個掃描頻率——保證V/I曲線測試穩(wěn)定可靠 ■ V/I測試三種測試電壓幅度——確保各類器件的V/I測試集成電路在線功能測試    
              集成電路在線狀態(tài)測試
              本功能采用后驅(qū)動隔離技術(shù),可在線判定IC邏輯功能是否正確,可測74系列、4000/45000邏輯IC、75系列接口IC各種存儲器等千余種集成電路。 
              1、快速測試:直接顯示測試結(jié)果,迅速確定可疑IC
              2、分析測試:顯示全部測試過程,測試激勵。預(yù)期和實際響應(yīng),幫助分析故障原因 
              3、器件識別:查找無標(biāo)記型號IC或同功能不同型號的IC。
              集成電路在線狀態(tài)測試
              通過好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較,找出有故障的IC。
              1、狀態(tài)學(xué)習(xí):在線學(xué)習(xí)無故障IC的引腳關(guān)系,互連狀態(tài)和測試的激勵與響應(yīng),并存入數(shù)據(jù)庫中 
              2、狀態(tài)比較:同故障板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較,根據(jù)兩者差異判定IC好壞 
              3、狀態(tài)顯示:顯示存入電腦庫中的各IC的狀態(tài)資料。
              集成電路離線功能測試
              離線測試IC功能好壞,自動識別未知型號的芯片
              IC邏輯圖查詢
              可查閱邏輯電路的邏輯功能圖,管腳圖及部分參數(shù)。
              V/I曲線測試
                  通過好壞板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點及故障IC
              1、學(xué)習(xí):在線學(xué)習(xí)無故障板上各節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線(V/I曲線),并存入數(shù)據(jù)庫中 
              2、曲線比較:同故障板上相應(yīng)節(jié)點的動態(tài)阻抗曲線進(jìn)行比較,根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗判定與此節(jié)點相關(guān)的IC是否損壞 
              3、曲線顯示:顯示已存入電腦庫中電路板上各個節(jié)點的動態(tài)阻抗圖資料大
              網(wǎng)絡(luò)提取測試
                  使用戶方便的測試出元器件之間的連接關(guān)系,輔助判斷芯片的好壞。實現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采用了四種模式: 

              1、探棒對探捧(“棒”—“棒”模式)  
              3、測試夾對探捧(“夾”—“棒”模式) 
              2、探捧對測試夾(“棒”—“夾”模式)
              4、測試夾對測試夾(“夾”—“夾”模式)

              開發(fā)編譯
                  TVED為每一塊電路的每一個子測試都安排了一個說明文件。該說明文件可以通過任何一個文本編輯器建立,并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可與相應(yīng)子測試關(guān)聯(lián)起來,隨時用熱鍵查看相應(yīng)說明文件。

              1、TVED允許兩種建立測試圖形和方法 a)在TVED圖形界面上直接建立  b)讀入DCL語言的編譯結(jié)果
              2、編輯測試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能,參考取回的響應(yīng),不斷對測試圖形加以調(diào)整、修改。
              3、4種測試方式:   a)完整執(zhí)行一個測試  b)執(zhí)行一個測試的一部分c)循環(huán)執(zhí)行 d)單步運行

              型號
              GT4040XP
              GT4880XP
              GT8080XP
              通道
              ICTF:  40th
              V/I曲線:40th
              ICTF:  40th
              V/I曲線: 80th
              ICTF: 40×2th
              V/I曲線: 80th
              附件
              雙列直插夾具(7件)    表面貼雙列直插夾具(7件)   單排式40腳夾具(3件)
              價格
              18,000
              26,000
              38,000
              產(chǎn)地
              北京迪陽科技儀器

               
               
               
               
               
               
               
              補充:GT4080P/8080P系統(tǒng)功能

              單個器件功能測試
              IC狀態(tài)測試
              VI曲線分析
              PROM操作
              LSI在線分析
              數(shù)據(jù)庫整理
              器件端口特征曲線測試
               

              北京迪陽世紀(jì)科技有限責(zé)任公司 版權(quán)所有 ? 2008 - 2018 著作權(quán)聲明
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