Al8xgte-x在okos公司超聲波無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)中的作用

OKOS設(shè)計(jì)的工業(yè)超聲波無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)(UT-NDT)

工業(yè)超聲波無(wú)損檢測(cè)(UT-NDT)已經(jīng)存在了幾十年。OKOS產(chǎn)品適用于工業(yè)UT-NDT，為掃描聲學(xué)顯微鏡市場(chǎng)設(shè)計(jì)和開(kāi)發(fā)的更新技術(shù)和解決方案。檢查員在金屬中尋找1000微米（1毫米）的缺陷，因?yàn)檫@是常態(tài)。借助新技術(shù)，可以識(shí)別金屬和合金中小至20微米的缺陷。

什么是無(wú)損檢測(cè)(NDT)？

檢查樣品時(shí)，有兩種測(cè)試方法，破壞性測(cè)試和非破壞性測(cè)試。使用橫截面等破壞性測(cè)試方法后，樣品通常會(huì)被丟棄，無(wú)法再次使用。此外，在進(jìn)行破壞性測(cè)試時(shí)，可能會(huì)在樣品中引入原本不存在的缺陷。這就是無(wú)損檢測(cè)提供最大優(yōu)勢(shì)的地方。

為什么要使用超聲波無(wú)損檢測(cè)？

通過(guò)無(wú)損檢測(cè)，可以在不改變樣品當(dāng)前狀態(tài)的情況下查看樣品的內(nèi)層。這在對(duì)樣本進(jìn)行破壞性測(cè)試在經(jīng)濟(jì)上不可行的情況下或者在樣本足夠脆弱以至于任何類型的破壞性測(cè)試都會(huì)引入最初不存在的額外缺陷導(dǎo)致可能的缺陷誤報(bào)檢測(cè)的情況下很有用。使用SAM用戶還可以快速檢查樣品的各個(gè)方面，例如在多個(gè)層/界面上同時(shí)發(fā)生翹曲、空隙、分層和密度變化。

NDT系統(tǒng)（無(wú)損檢測(cè)）也用于通過(guò)超聲波掃描和分析零件。而SAM系統(tǒng)是僅使用三個(gè)軸的NDT系統(tǒng)的專用版本。NDT系統(tǒng)可以配備2到12個(gè)軸，具體取決于要分析的零件類型。NDT系統(tǒng)通常包括旋轉(zhuǎn)器/轉(zhuǎn)盤和萬(wàn)向節(jié)/旋轉(zhuǎn)機(jī)構(gòu)，允許它們執(zhí)行復(fù)雜的運(yùn)動(dòng)以進(jìn)行掃描。NDT系統(tǒng)在工業(yè)中非常有用，可以測(cè)試更大的和不規(guī)則形狀的零件，例如錐體、曲線、圓柱形和有角度的零件。

而OKOS公司的超聲波無(wú)損檢測(cè)系統(tǒng)的核心檢測(cè)部件是一塊PCIe高速數(shù)據(jù)采集卡。

Al8xgte-x系列采集卡，采樣速率從1GS/s~3GS/s采樣

目前北京迪陽(yáng)世紀(jì)公司代理銷售全系列OKOS公司A/D板卡 www.trmgy.cn。

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