從上述的評論可以很顯著地看出,由于發(fā)光二極管具有激烈的指向性,因而適用于傳統(tǒng)照明光源的全光束及光衡量測辦法未必適用于發(fā)光二極管的量測上,因而世界照明協(xié)會(CIE, International Commission on Illumination)第二小組在1994年建立TC2-34 LED Measurement技能委員會,對準LED光學特性的量測進行研討,并擬定如表2所示的分項技能評論。關(guān)聯(lián)于TC2-34的技能陳述于1997年由CIE宣布,陳述標題為「CIE-127 Measurement of LED」,就是當前我們所熟知遍及被運用于LED量測的CIE-127。
CIE-127整份文件分為8個章節(jié),8個章節(jié)的標題別離如下:
1. Introduction
2. Properties of LEDs
3. Production tolerance
4. Properties of the detector
5. Quantities defining spatial relations
6. Measurement of total luminous flux
7. Quantities related to spectral distribution
8. Bibliography
而在CIE-127文件的一最初,便試著闡明這份文件的擬定首要是由于發(fā)光二極管與其它光源有顯著地不一樣,因而需求一些新界說來做精準量測,這個新界說稱為均勻發(fā)光二極管發(fā)光強度(Averaged LED Intensity),而這個新界說的量測可以供給市面上不一樣封裝辦法的發(fā)光二極管有含義及具有重復性的量測成果。別的,光通量(Luminous Flux)也在評論的規(guī)模中,而發(fā)光二極管光通量的量測需求獨特建構(gòu)適用的積分球。文件中主張,發(fā)光二極管光通量與均勻發(fā)光功率的量測最棒能與標準發(fā)光二極管以比較法取得最佳的成果,而標準發(fā)光二極管的挑選根據(jù)是該標準發(fā)光二極管與待測發(fā)光二極管具有一樣的波長性質(zhì)及配光曲線,且在運用時需求有杰出的溫控。
為徹底解決以上問題,因而CIE導入「均勻發(fā)光二極管發(fā)光強度」這種全新量測的辦法,這種均勻發(fā)光二極管發(fā)光強度(Average LED Intensity)的界說可對準當前已商品化的各種發(fā)光二極管,供給具有有用含義與再現(xiàn)性的量測成果。所謂的均勻發(fā)光二極管發(fā)光強度是將發(fā)光二極管的組織軸界說為量測中間的首要量測根據(jù),并清晰規(guī)則發(fā)光二極管與偵測器的間隔、偵測器的巨細,這樣的作法可將發(fā)光二極管由于封裝辦法或是外型上不一樣所形成的發(fā)光強度改變予以均勻化。實踐上的作法則是固定發(fā)光二極管與偵測器的間隔,而偵測器的前方有必要設置約束偵測器接納面積為100mm2的圓形光圈(Aperture),藉由偵測器可接納到的均勻照度(Illuminance)以核算發(fā)光二極管的均勻發(fā)光強度ILED,其架構(gòu)如圖4。
CIE-127規(guī)則,根據(jù)發(fā)光二極管與偵測器的間隔的不一樣,界說出兩種不一樣的量測條件,別離為CIE Standard Condition A及CIE Standard Condition B。當發(fā)光二極管與偵測器的間隔d為316mm時(圖3),稱為CIE Standard Condition A;當發(fā)光二極管與偵測器間隔d為100mm時,稱為CIE Standard Condition B。具體上來說,Condition A代表光源執(zhí)政偵測器方向,且在偵測器面積為100mm2所張的立體角(Solid Angle)為0.001sr(其平面視點約為2°),而Condition B則代表光源執(zhí)政偵測器方向,且在偵測器面積為100mm2所張的立體角(Solid Angle)為0.01sr(其平面視點約為6.5°)。而均勻發(fā)光二極管強度的核算則是在承認量測條件為CIE Standard Condition A或是CIE Standard Condition B后,藉由下列式子得出:
CIE-127藉由對量測中每一項變量清晰的界說,防止由于發(fā)光二極管實踐發(fā)光中間不清晰,或是光軸不易斷定所可以形成影響,并藉由均勻(average)的主意,減低在量測發(fā)光強度時由于發(fā)光二極管激烈的指向性,形成在量測發(fā)光強度時由于量測軸選用的禁絕而可以形成的差錯。不過再一次著重的是,在運用均勻發(fā)光二極管強度(Average LED Intensity)時,量測體系的發(fā)光二極管樣品的中間軸為其機械軸,且CIE Standard Condition中的間隔為發(fā)光二極管樣品端緣(也就是幾許形狀上的最前緣)至偵測器的間隔。而量測出的均勻發(fā)光二極管強度有必要清晰標示所運用的條件為CIE Standard Condition A仍是CIE Standard Condition B,并可以ILED A v或是ILED B v表明。
LED技能不斷打破 量測標準日漸缺少CIE-127的發(fā)生讓本來莫衷一是的發(fā)光二極管量測有了根據(jù),不光供給各發(fā)光二極管制造廠商一個產(chǎn)物檢測的根據(jù),也進步了各研討單位對準發(fā)光二極管關(guān)聯(lián)量測的重復性與再現(xiàn)性。不過從1997年到如今,關(guān)聯(lián)于發(fā)光二極管于其它范疇的運用與研討仍繼續(xù)在進行,而關(guān)于一些新式發(fā)光二極管或模塊的量測,CIE127也漸漸出現(xiàn)出其缺少的當?shù)?。不過關(guān)聯(lián)于發(fā)光二極管量測方面的進一步研討,CIE其實并沒有連續(xù)。去年在東京所舉行的「CIE Symposium 2004 on LED Light Sources」便對準當前各研討單位或是發(fā)光二極管制造商所遇到量測或是驗證上的問題、發(fā)光二極管在運用上的安全性,及發(fā)光二極管于光源質(zhì)量關(guān)聯(lián)的界說能否適用等問題進行評論。而從CIE悉數(shù)評論的議題傍邊(如表3、4),發(fā)光二極管關(guān)聯(lián)的議題份額越來越高,也可以看出發(fā)光二極管近年來所遭到的注重??墒顷P(guān)于發(fā)光二極管量測方面的研討,國內(nèi)關(guān)聯(lián)的研討起步甚慢,因而無法將臺灣各發(fā)光二極管制造商實踐上遇到的問題真實地反映在關(guān)聯(lián)文件或是標準的擬定,因而期望關(guān)聯(lián)的研討單位能在可預見的將來,供給國內(nèi)各制造商關(guān)聯(lián)的撐持與彌補,并能在技能面上與世界關(guān)聯(lián)單位接軌,讓國內(nèi)涵發(fā)光二極管工業(yè)上可以愈加老練。