


| 型號(hào): | 規(guī)格 | 說(shuō)明 | 價(jià)格 |
| IST8800 | 組合測(cè)試 | 半導(dǎo)體分立器件測(cè)試儀 | 99800元 |
| GT3100 | 組合測(cè)試 | 數(shù)字IC品質(zhì)分選測(cè)試儀 | 12800元 |
| GT3198 | 組合測(cè)試 | 線(xiàn)性IC參數(shù)分選測(cè)試儀 | 21800元 |
TONEOHM 950 | 英國(guó)產(chǎn) | 多層板短路探測(cè)儀 | 59000元 |
| 型號(hào) | |||
| 通道 | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn):40th | ICTF: 40th V/I曲線(xiàn): 80th | ICTF: 40×2th V/I曲線(xiàn): 80th |
| 附件 | 雙列直插夾具(7件) 表面貼雙列直插夾具(7件) 單排式40腳夾具(3件) | ||
| 價(jià)格 | 18,000元 | 26,000元 | 38,000元 |
| 產(chǎn)地 | 北京迪陽(yáng)公司 | ||
集成電路測(cè)試儀是對(duì)集成電路進(jìn)行測(cè)試的專(zhuān)用儀器設(shè)備,集成電路的分類(lèi)很多,主要大的分類(lèi)有數(shù)字集成電路和模擬集成電路等,按集成電路的分類(lèi),集成電路測(cè)試儀也可以分為:數(shù)字集成電路測(cè)試儀和模擬集成電路測(cè)試儀。按功能分類(lèi):可以分為集成電路功能測(cè)試儀和集成電路參數(shù)測(cè)試儀;按形式分:便攜式集成電路測(cè)試儀和臺(tái)式集成電路測(cè)試儀。功能測(cè)試:是對(duì)集成電路的功能進(jìn)行判定,看是否功能失效。參數(shù)測(cè)試:是對(duì)集成電路的各項(xiàng)參數(shù)進(jìn)行測(cè)試,看測(cè)試讀取的參數(shù)是否符合ic的設(shè)計(jì)要求。市場(chǎng)上常見(jiàn)的便宜的集成電路測(cè)試儀大多是功能測(cè)試,由于參數(shù)測(cè)試儀的生產(chǎn)成本較高,一般參數(shù)測(cè)試儀的價(jià)為都在幾萬(wàn),價(jià)位的高低一般取決于參數(shù)測(cè)試的精度。
詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)請(qǐng)看相關(guān)產(chǎn)品介紹,或官網(wǎng) :www.trmgy.cn 索取。
詳細(xì)技術(shù)指標(biāo)見(jiàn)相關(guān)資料: [email protected] [email protected]